质谱仪是测量带电粒子的质量和分析同位素的重要工具,某实验小组利用质谱仪分析某气体原子的组成,让该中性气体分子进入电离室A,在那里被电离成电子和+1价的正离子,这些离子从电离室缝S
1飘出(初速度不计),分2次分别进入电场方向相反的加速电场被加速,然后让离子从缝S
2垂直进入匀强磁场,观察发现一部分粒子打在底片上的P点。已知缝S
2与P之间的距离为x
1=2.0cm,另外一部分粒子打在底片上的Q点,已知缝S
2与Q点间在沿S
2P方向上距离为x
2=6.4cm,磁场宽度为d=30cm,质子的质量为m
p , 假设中子的质量m
n=m
p , 且约为电子质量m
e的1800倍,即m
n=m
p=1800m
e . 则: