某粒子分析裝置如图所示，其基本结构由发射筛选装置Ⅰ以及分析装置Ⅱ组成。装置Ⅰ中粒子源S持续地沿速度选择器的中心线【参考答案】

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某粒子分析裝置如图所示，其基本结构由发射筛选装置Ⅰ以及分析装置Ⅱ组成。装置Ⅰ中粒子源S持续地沿速度选择器 $\text{[math]}$ 的中心线射出质量为m，电量为q的带正电粒子，粒子经点 $\text{[math]}$ ，沿与平面 $\text{[math]}$ 平行的方向射入装置Ⅱ、由于装置Ⅰ可在平面内绕 $\text{[math]}$ 转动，因而粒子飞入 $\text{[math]}$ 点时与 $\text{[math]}$ 夹角 $\text{[math]}$ 可发生变化，已知粒子飞入 $\text{[math]}$ 点的速度v与夹角 $\text{[math]}$ 的关系为 $\text{[math]}$ ， $\text{[math]}$ 可在0到 $\text{[math]}$ 之间变化，且飞入 $\text{[math]}$ 点的粒子数按角度均匀分布。分析装置Ⅱ中有两平行于 $\text{[math]}$ 平面的正方形平面 $\text{[math]}$ 与 $\text{[math]}$ ，边长为 $\text{[math]}$ ，两平面距离为d。平面间存在一沿z轴负方向的匀强磁场，其磁感应强度大小为B。平面 $\text{[math]}$ 是粒子接收屏粒子击中屏幕后会发出荧光从而获得分析粒子的相关数据。不计粒子重力及其相互作用。（提示：合运动我们经常会使用运动分解的方式来简化模型）

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