脆性X染色体综合征是一种常见的智力低下综合征。X染色体上F基因的某区域存在n个（CGG）三个核苷酸片段重复，正常基因（F）、前突变基因（F⁺）和全突变基因（f）的相关差异如图1所示。研究发现，卵细胞形成过程中，F基因的（CGG）n重复次数会显著增加，而精子形成过程中则不会增加。