质谱仪是一种可以测定微观粒子比荷（即荷质比）的仪器，某种质谱仪工作原理如图所示。粒子源发出初速度为零的氕核经加速电场（已知加速电压为）加速后，从点垂直进入四分之一圆形磁场分析器，磁场分析器中有垂直于纸面向外的匀强磁场（图中未画出）。已知氕核在磁场区域运动一定时间后恰好垂直于磁场下边界从点射出， ， 氕核的电荷量为 ， 质量为 ， 不计氕核重力，求：

（1）氕核进入磁场分析器中速度的大小；

（2）磁场分析器中磁感应强度大小；

（3）现有一未知粒子（不计重力）经相同电场加速后，从点垂直进入磁场，并从点离开，测得 ， 求未知粒子的比荷。